Journal article
Optically Active Luminescent Perylene Thin Films Deposited by Plasma Polymerization
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Blaszczyk-Lezak, Iwona
Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (CSIC-US) c/Américo Vespucio 49, ES 41092 Sevilla, Spain, Nanotech@surfaces Laboratory, Swiss Federal Laboratories for Materials Testing and Research (EMPA) Feuerwerkerstrasse 39, CH 3602 Thun, Switzerland, and Laboratorio de Instrumentación Espacial LINES, INTA, Ctra de Ajalvir Km 4, ES 28850, Madrid, Spain
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Aparicio, Francisco J.
Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (CSIC-US) c/Américo Vespucio 49, ES 41092 Sevilla, Spain, Nanotech@surfaces Laboratory, Swiss Federal Laboratories for Materials Testing and Research (EMPA) Feuerwerkerstrasse 39, CH 3602 Thun, Switzerland, and Laboratorio de Instrumentación Espacial LINES, INTA, Ctra de Ajalvir Km 4, ES 28850, Madrid, Spain
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Borrás, Ana
Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (CSIC-US) c/Américo Vespucio 49, ES 41092 Sevilla, Spain, Nanotech@surfaces Laboratory, Swiss Federal Laboratories for Materials Testing and Research (EMPA) Feuerwerkerstrasse 39, CH 3602 Thun, Switzerland, and Laboratorio de Instrumentación Espacial LINES, INTA, Ctra de Ajalvir Km 4, ES 28850, Madrid, Spain
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Barranco, Angel
Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (CSIC-US) c/Américo Vespucio 49, ES 41092 Sevilla, Spain, Nanotech@surfaces Laboratory, Swiss Federal Laboratories for Materials Testing and Research (EMPA) Feuerwerkerstrasse 39, CH 3602 Thun, Switzerland, and Laboratorio de Instrumentación Espacial LINES, INTA, Ctra de Ajalvir Km 4, ES 28850, Madrid, Spain
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Álvarez-Herrero, Alberto
Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (CSIC-US) c/Américo Vespucio 49, ES 41092 Sevilla, Spain, Nanotech@surfaces Laboratory, Swiss Federal Laboratories for Materials Testing and Research (EMPA) Feuerwerkerstrasse 39, CH 3602 Thun, Switzerland, and Laboratorio de Instrumentación Espacial LINES, INTA, Ctra de Ajalvir Km 4, ES 28850, Madrid, Spain
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Fernández-Rodríguez, Marianela
Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (CSIC-US) c/Américo Vespucio 49, ES 41092 Sevilla, Spain, Nanotech@surfaces Laboratory, Swiss Federal Laboratories for Materials Testing and Research (EMPA) Feuerwerkerstrasse 39, CH 3602 Thun, Switzerland, and Laboratorio de Instrumentación Espacial LINES, INTA, Ctra de Ajalvir Km 4, ES 28850, Madrid, Spain
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González-Elipe, A. R.
Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (CSIC-US) c/Américo Vespucio 49, ES 41092 Sevilla, Spain, Nanotech@surfaces Laboratory, Swiss Federal Laboratories for Materials Testing and Research (EMPA) Feuerwerkerstrasse 39, CH 3602 Thun, Switzerland, and Laboratorio de Instrumentación Espacial LINES, INTA, Ctra de Ajalvir Km 4, ES 28850, Madrid, Spain
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Published in:
- The Journal of Physical Chemistry C. - American Chemical Society (ACS). - 2008, vol. 113, no. 1, p. 431-438
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https://sonar.ch/global/documents/159562
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